Máy Đo Bề Mặt Quang Học 3D Chroma 7503 – Giải Pháp Đo Biên Dạng Bề Mặt Độ Chính Xác Nano

Máy đo bề mặt quang học 3D Chroma 7503 là gì?

Máy đo bề mặt quang học 3D Chroma 7503 là hệ thống đo lường không tiếp xúc sử dụng công nghệ giao thoa ánh sáng trắng (White Light Interferometry). Để phân tích hình dạng, độ nhám và cấu trúc bề mặt với độ chính xác cực cao. Thiết bị được thiết kế nhằm đáp ứng nhu cầu đo kiểm trong nghiên cứu, sản xuất và kiểm soát chất lượng các linh kiện có kích thước micro và nano.

Nhờ cấu trúc mô-đun linh hoạt, hệ thống có thể tùy chỉnh theo nhiều ứng dụng khác nhau trong ngành bán dẫn. MEMS, quang học, điện tử, màn hình phẳng và công nghệ vật liệu tiên tiến. Thiết bị cho phép đo nhanh mà không cần xử lý mẫu trước, giúp giảm thời gian kiểm tra và tăng hiệu quả vận hành.

Khả năng đo 2D và 3D cùng nhiều công cụ phân tích chuyên sâu giúp Chroma 7503 trở thành giải pháp đo biên dạng bề mặt đáng tin cậy. Cho các phòng thí nghiệm và dây chuyền sản xuất hiện đại.

Công nghệ giao thoa ánh sáng trắng trên máy đo biên dạng bề mặt Chroma 7503

Máy đo biên dạng bề mặt Chroma 7503 sử dụng công nghệ giao thoa ánh sáng trắng để tái tạo hình ảnh bề mặt với độ phân giải cao mà không gây tác động vật lý lên mẫu đo. Công nghệ này cho phép xác định chính xác chiều cao, độ nhám và hình thái học của các cấu trúc vi mô.

Khác với nhiều hệ thống đo sử dụng thuật toán trọng tâm truyền thống. Chroma 7503 áp dụng thuật toán xử lý tín hiệu giao thoa tiên tiến kết hợp phần mềm 3D Profiler Master. Giải pháp này giúp giảm sai số biên, hạn chế ảnh hưởng của hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng và nâng cao độ chính xác khi đo các bề mặt phức tạp.

Ngoài ra, hệ thống còn tích hợp chức năng xử lý điểm tối giúp tự động phát hiện. Và hiệu chỉnh dữ liệu không hợp lệ trong quá trình thu nhận tín hiệu. Điều này đảm bảo kết quả đo ổn định và đáng tin cậy trong các môi trường sản xuất yêu cầu độ chính xác cao.

Ưu điểm nổi bật của máy đo độ nhám bề mặt quang học Chroma 7503

Máy đo độ nhám bề mặt quang học Chroma 7503 sở hữu nhiều ưu điểm giúp nâng cao hiệu quả đo lường và phân tích bề mặt trong môi trường nghiên cứu cũng như sản xuất công nghiệp.

Đo không tiếp xúc với độ phân giải nano

Hệ thống sử dụng phương pháp đo quang học không tiếp xúc. Giúp bảo vệ các mẫu vật nhạy cảm và tránh nguy cơ làm hỏng bề mặt trong quá trình kiểm tra. Độ phân giải chiều cao có thể đạt tới mức nano, phù hợp với các ứng dụng đo cấu trúc siêu nhỏ.

Thiết kế mô-đun linh hoạt

Cấu trúc mô-đun cho phép lựa chọn cấu hình phù hợp với ngân sách và yêu cầu kỹ thuật. Người dùng có thể tích hợp nhiều loại vật kính khác nhau để mở rộng phạm vi ứng dụng.

Đo diện tích lớn và tự động hóa cao

Hệ thống hỗ trợ bàn dịch chuyển tự động với phạm vi quét lớn theo các trục X, Y và Z. Khả năng tự động lấy nét và định vị mẫu giúp rút ngắn thời gian vận hành. Đồng thời giảm sự phụ thuộc vào thao tác của người dùng.

Hỗ trợ hơn 150 tham số phân tích

Phần mềm chuyên dụng cung cấp hơn 150 tham số đánh giá bề mặt như độ nhám, độ gợn sóng, độ phẳng, đỉnh, đáy và nhiều thông số hình học khác.

Các thông số đo lường của hệ thống đo bề mặt 3D Chroma 7503

Hệ thống đo bề mặt 3D Chroma 7503 cung cấp đầy đủ các thông số cần thiết để đánh giá chất lượng bề mặt trong nghiên cứu và sản xuất.

Các thông số đo phổ biến gồm:

• Chiều cao bậc (Step Height)
• Độ nhám bề mặt (Surface Roughness)
• Độ gợn sóng (Waviness)
• Độ phẳng (Flatness)
• Độ dày màng mỏng (Film Thickness)
• Góc nghiêng và góc bao
• Kích thước hình học
• Diện tích và thể tích bề mặt
• Phân tích mặt cắt 2D
• Tái tạo địa hình bề mặt 3D

Thiết bị còn hỗ trợ các công cụ xử lý dữ liệu như FFT, bộ lọc thông cao, thông thấp, lọc không gian và cân bằng bề mặt, giúp nâng cao chất lượng phân tích.

THAM KHẢO: WEBSITE CHÍNH HÃNG CHROMA

Ứng dụng của máy đo bề mặt quang học 3D Chroma 7503

Máy đo bề mặt quang học 3D Chroma 7503 được ứng dụng rộng rãi trong nhiều lĩnh vực công nghệ cao yêu cầu độ chính xác ở cấp độ micro và nano.

Ngành bán dẫn

Thiết bị được sử dụng để đo độ nhám wafer, chiều cao cấu trúc vi mô, độ phẳng bề mặt và độ dày lớp phủ trong quá trình sản xuất chip bán dẫn.

Công nghệ MEMS

Khả năng đo cấu trúc vi cơ điện tử giúp kiểm tra kích thước và hình dạng các linh kiện MEMS với độ chính xác cao.

Quang học và quang điện tử

Hệ thống hỗ trợ đánh giá chất lượng bề mặt thấu kính, linh kiện quang học và các thành phần truyền dẫn quang.

Điện tử và đóng gói vi mạch

Thiết bị được sử dụng để kiểm tra bề mặt linh kiện điện tử, lớp phủ bảo vệ và các cấu trúc đóng gói tiên tiến.

Nghiên cứu vật liệu

Các phòng nghiên cứu vật liệu sử dụng Chroma 7503 để đánh giá cấu trúc bề mặt và tối ưu hóa quy trình chế tạo vật liệu mới.

Bảng thông số kỹ thuật máy đo bề mặt quang học 3D Chroma 7503

Thông số có thể thay đổi tùy theo cấu hình đặt hàng thực tế.

THAM KHẢO: THÊM CÁC THIẾT BỊ CHÍNH HÃNG CHROMA KHÁC

Vì sao nên lựa chọn máy đo bề mặt quang học 3D Chroma 7503?

Máy đo bề mặt quang học 3D Chroma 7503 mang đến sự kết hợp giữa độ chính xác nano. Khả năng đo không tiếp xúc và tính linh hoạt cao trong cấu hình hệ thống. Công nghệ giao thoa ánh sáng trắng tiên tiến giúp thiết bị đáp ứng tốt các yêu cầu kiểm tra bề mặt hiện đại trong sản xuất và nghiên cứu.

Với khả năng đo nhanh, xử lý dữ liệu mạnh mẽ và hỗ trợ tự động hóa. Chroma 7503 là lựa chọn phù hợp cho các doanh nghiệp muốn nâng cao chất lượng sản phẩm và tối ưu hóa quy trình kiểm soát chất lượng.

CÔNG TY CỔ PHẦN THIẾT BỊ VÀ DỊCH VỤ CÔNG NGHỆ T&M

Hà Nội : Tầng 2, Số 110 Trần Vỹ, Phường Phú Diễn, Thành phố Hà Nội
Hồ Chí Minh: Toà nhà HB, Số 154 Phạm Văn Chiêu, Phường Thông Tây Hội, TP. HCM
Hotline:  0918.145.086
Email: htduong@tm-tech.vn